Атомно-силовой микроскоп (AFM, СЗМ)

  

НаноЛаборатория ИНТЕГРА Прима (NT-MDT Integra Prima HD) — базовый представитель платформы. Соответствуя всем современным стандартам СЗМ, эта модель является отправным пунктом для интеграции СЗМ с другими методическими подходами.

Отличительные особенности конфигурации микроскопа, находящегося в Отделе прикладной физики:

  • возможность снимать образцы неограниченного размера и массы без потери качества съёмки (с помощью метода сканирования зондом)
  • возможность работать с очень хрупкими образцами, используя полуконтактный метод
  • размер области сканирования до 120 мкм на 120 мкм при разрешении 4к на 4к точек
  • возможность достижения атомарного разрешения с использованием малого прецизионного сканера 1 мкм на 1 мкм
  • максимальная разница высот в области сканирования до 500 мкм
  • наличие виброизоляционного шкафа с активным подавлением как низкочастотных так и высокочастотных шумов
  • возможность проведения электро-статических и магнитных эффектов на поверхности образца
  • наличие новейшей приставки Hybrid, позволяющей в каждой точке сканирования измерять силы сцепления зонда с поверхностью
  • наличие датчиков перемещения позволяющих работать с включенными датчиками на полях сканирования до 5 нм
  • оптический микроскоп с разрешением до 1 мкм, позволяющий с высокой точностью определять место сканирования на поверхности образца