Стенд контроля оптической однородности и степени монодоменности в кристаллах KTP, BBO, RTP.

Данный стенд предназначен для измерения ключевых параметров, отбора и паспортизации заготовок из кристаллов BBO, KTP, RTP, пригодных для изготовления высококачественных электрических

модуляторов, а также измерения параметров полированных поверхностей элементов из кристаллов. 

 

Стенд обеспечивает:

 

1. Контроль оптической однородности кристаллов, точность измерения искажения плоского волнового фронта световой волны a/10 

   на апертуре кристаллической заготовки размером до 50х50 мм2.

2. Контроль наведённой двуосности в кристаллах.

3. Контроль малоуглового рассеяния.

4. Контроль и построение границ монодоменных областей пластин KTP и RTP толщиной 0,2 - 20 мм, с 

   разрешением 500 мкм, поле измерения 50х50 мм2.

5. Контроль совершенства полированных поверхностей кристалла